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低本底αβ测量仪
电子学线路本仪器的电子学部分包括一台低压电源,两台高压电源,和测量控制单元。
铅室该铅室由7.5cm铅和1.5cm的钢壳做成。铅室分为上下两部分,其上下部铅厚10cm,上铅室可以拆卸。
铅室和电子学部分装在311-625标准机柜中。
工作方式四个探测器能同时测αβ,也能单独测α或β。测量时间可任意选择。
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低本底介绍
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性能稳定、设计紧凑,使用操作方便。以大面积薄窗流气式正比计数管为探测器(Ø60mm),用专门设计的屏蔽计数管与测量计数管进行反符合,以降低周围环境对测量的干扰。用精选“老铅”作成厚铅室屏蔽外来辐射。因此,该仪器检测灵敏度高、本底低。能量响应好,对14C低能β射线的探测效率≥40%。优于半导体、闪烁体为探头的同类检测仪。采用计算机数控操作,不外设开关旋钮。通过程序控制可以自行检测计数管的坪特性,设定计数管的工作点,自行检测仪器本底计数率,并在对样品的检测时自行扣除本底计数,对结果进行修正。结合使用标准源,可以自行校准仪器的探测效率。自动处理检测结果。可以直接得到被测样品的比活度Bq/L或Bq/Kg等。
低本底
低本底α、β测量仪计数效率与其射线能量间关系,241Am40K别作总α总β标准物质,计算见核素总α总β计数效率E相于标准物质计数效率Esd等效ρ(ρ=E/Esd),用于比较已知核素度浓度品总估算值与测量值间致性研究发现,计数率比值,即度-计数率比K,与待测源质量厚度间存良线性关系用度-计数率比代替计数效率作'效率校',计算便、精度较高基于述研究建立适用于食品环境品总α总β测定
低本底主要参数指标
低本底的系统稳定性:
效率稳定性:仪器通电24h,各路α道探测效率变化≤3%,β道探测效率变化≤5%
本底稳定性:在24h的测量时间内,本底计数变化在(Nb±3σ)的范围内,其中Nb 为本底计数的平均值,σ为本底计数的标准误差
-铅屏蔽室:厚度≥100mm,可方便拆卸安装
-温度范围:0℃~40℃ 湿度范围:<90%(+40℃)
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